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直讀光譜儀的工作流程介紹

更新日期: 2018-01-26
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    激發(fā)時產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室,實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗,提高檢出限,測定結(jié)果,重現(xiàn)性及穩(wěn)定性,光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作。直讀光譜儀自動識別特定譜線,與原存儲線進(jìn)行對比,確定漂移位置,找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定;這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的光電倍增管,光信號變成電信號,經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計(jì)算機(jī)處理,并打印出各元素的百分含量。 
 
    電極間距較小,固然激發(fā)容易,可是隨著放電次數(shù)的增加,輔助電極凝聚物質(zhì)增加,容易造成長尖使得間距變小,這樣也會影響分析精度,特別是向距變化敏感的分析元素分析精度更差。所以直讀光譜儀的電極間距不能過大也不能過小,一般分析間隙采用4-5毫米。一般組織結(jié)構(gòu)的不同不會使工作曲線斜率改變,大體上只有平行移動??刂圃嚇觼硇U€的上下平移,能減少系統(tǒng)誤差。分析試樣經(jīng)切割以后、要磨去表面氧化層,用研磨機(jī)磨樣時,試樣和標(biāo)鋼要同時操作,要力求操作一致,用力過大則易使表面氧化。磨紋要求一致,不應(yīng)有交叉紋。試樣磨后不宜放置過長,否則造成試料表面氧化,影響分析結(jié)果。一般可采用中軟,粒度為360的砂輪片磨樣,此外也可用砂紙或砂輪磨樣。
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